
Estudo da camada superficial do silício com revestimento de índio: Microscopia de tunelamento de varredura e espectroscopia de formações estruturais nas superfícies Si(111) e Si(557) com aglomerados
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Estudo da camada superficial do silício com revestimento de índio: Microscopia de tunelamento de varredura e espectroscopia de formações estruturais nas superfícies Si(111) e Si(557) com aglomerados
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